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重庆市高2025届高三第五次质量检测(2025.1)数学试题x

[db:作者] 文档 2025-01-03 09:48:18 0
重庆市高2025届高三第五次质量检测(2025.1)数学试题x

本文从以下几个角度介绍。

    1、重庆市部分区2024-2024学年度第一学期期末联考高二
    2、重庆市2024年高二数学期末考试
    3、2024重庆市高三二模数学
    4、重庆市2024高三毕业生质量调研抽测
    5、重庆高考数学2015
    6、重庆2024年秋高二(上)期末联合检测试卷
    7、重庆市2024高三第二次质量检测
    8、重庆市2024年秋高二上期末联合检测试卷
    9、重庆市2024高二期末考试数学
    10、重庆2024年秋高二上期末联合检测试卷

5、重庆市高2025届高三第五次质量检测(2025.1)数学试题


5、重庆市高2025届高三第五次质量检测(2025.1)数学试题


(3)水平传送带的速率v.
15.(16分)在芯片制造过程中,离子注入是其中一道重要的工序.如图14所示是离子注入简化工作原理的示意图,一粒子源于A处不断释放质量为m,带电量为的离子,其初速度视为零,经电压为U的加速电场加速后,沿图中半径为的圆弧形虚线通过圆弧形静电分析器(静电分析器通道内有均匀辐向分布的电场)后,从P点沿直径PQ方向进入半径为的圆形匀强磁场区域,磁场方向垂直于纸面向外。经磁场偏转,离子最后垂直打在平行PQ放置且与PQ等高的硅片上,硅片到PQ的距离为.不计离子重力.求:
图14
(1)静电分析器通道内虚线处电场强度的大小E;
(2)磁感应强度大小B;
(3)若加速电压和静电分析器中电场的大小可以调节,离子在静电分析器中仍沿虚线圆弧运动,要让从P点沿直径PQ方向进入圆形匀强磁场区域的离子全部打在硅片上,求加速电压的变化范围.(结果用U表示)
参考答案


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2、重庆市高2025届高三第五次质量检测(2025.1)数学试题


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